采用UV-3600i Plus 島津制作所儀器進行檢測。
測試方法：UV-3600i Plus（帶積分球）
波長范圍：700-1000nm；測試角度：8°
· 反射率：700nm至1000nm波長范圍內的8°角反射率為97.166%；1000nm波長下的8°角反射率為97.673%。
· 膜材料：· 膜厚度的控制對反射率具有顯著影響。在光學器件制造中，膜厚被精確控制，以使薄膜在可見光波段內具有所需的反射和透射特性。
· 表面形態：鍍層的表面粗糙度和平整度也會影響反射率。高平整度的表面通常具有更高的反射率。
· 入射角：反射率還受入射角的影響，不同入射角下的反射率可能有所不同。
采用接觸式或非接觸式的方法。接觸式方法包括使用表面粗糙度儀，該儀器通過內置的銳利觸針在被測表面上滑行，感受表面的粗糙度，并將位移信號轉換為電信號進行處理，最終得到粗糙度數值。非接觸式方法則利用光學原理，如激光散射法、白光干涉法等，通過測量光線在鍍層表面的反射或散射特性來評估粗糙度。
Sa（Arithmetic Mean Height）：算術平均高度，是表面粗糙度參數中的一種，用來表示一個表面上各點高度偏差的算術平均值。Sa值越小，表示表面越平滑。
Sq（Root Mean Square）：均方根高度，是另一種常用的表面粗糙度參數，表示表面各點高度偏差的均方根值。Sq提供了表面粗糙度的一個標準差度量，Sq值越小，表明表面粗糙度的波動越小。
Sz（Maximum Height）：最大高度，指的是在表面粗糙度測量中，從最高點到最低點的最大距離。Sz是描述表面粗糙度的一個極端值，反映了表面的最高峰谷差異。
白光干涉儀通過不同光學元件形成參考光路和檢測光路。當兩束相干光的光程差發生變化時，會非常靈敏地導致干涉條紋的移動。
白光干涉儀通過不同光學元件形成參考光路和檢測光路。當兩束相干光的光程差發生變化時，會非常靈敏地導致干涉條紋的移動。
干涉儀基于波的干涉現象，即兩個或多個波疊加時產生的干涉圖案，其中最初的光強度被重新分配，產生的波有更高、相等或更低的振幅。
干涉儀基于波的干涉現象，即兩個或多個波疊加時產生的干涉圖案，其中最初的光強度被重新分配，產生的波有更高、相等或更低的振幅。
離子束拋光機利用高束流密度、較小的束散角和較大束流均勻度的高能離子束轟擊光學元件表面，從而實現光學元件的高精度加工。
離子束拋光機利用高束流密度、較小的束散角和較大束流均勻度的高能離子束轟擊光學元件表面，從而實現光學元件的高精度加工。
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